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无损检测技术资格人员考试

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在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）

  • A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大
  • B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大
  • C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小
  • D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
正确答案:D
答案解析:有
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