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无损检测技术资格人员考试

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由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。

  • A、对探伤有利
  • B、对探伤不利
  • C、半扩散角增大
  • D、超声波能量发散
正确答案:B
答案解析:有
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