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化学分析工考试

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在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

  • A、均匀性
  • B、粒度效应
  • C、辐射
  • D、吸收-增强效应
正确答案:B,D
答案解析:有
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