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综合计量工考试

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在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

  • A、0.001mm
  • B、0.002mm
  • C、0.003mm
正确答案:B
答案解析:有
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